| Обозначение | Дата введения | Статус |
  ГОСТ 8.591-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки | 01.11.2010 | действует |
Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measure with trapezoidal profile of elements. Verification method Область применения: Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ 8.592. Рельефные меры применяют для измерения линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м. Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодических поверок рельефных мер Нормативные ссылки:  ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ 8.592, ГОСТ 12.1.040, ГОСТ 12.2.061, ГОСТ ИСО 14644-1, ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017 |
| ГОСТ 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления | 01.11.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Geometrical shapes, linear size and manufacturing material requirements Область применения: Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м. Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных микроскопов по ГОСТ 8.594 и сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов по ГОСТ 8.593 при проведении метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ 8.591, ГОСТ 8.593, ГОСТ 8.594, ГОСТ 19658 |
| ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки | 01.11.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.630-2007, ГОСТ 8.591, ГОСТ 8.592, ГОСТ 12.2.061, ГОСТ ИСО 14644-1, ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017 |
| ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки | 01.11.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Method for verification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 Нормативные ссылки: ГОСТ 8.591, ГОСТ 8.592, ГОСТ 12.2.0611, ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017 |
| ГОСТ Р 8.628-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления | 01.02.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Single-crystal silicon nanometer range relief measures. Requirements for geometrical shapes, linear sizes and manufacturing material selection Область применения: Настоящий стандарт устанавливает требования к геометрическим формам и линейным размерам, а также к выбору материала для изготовления рельефных мер нанометрового диапазона из монокристаллического кремния для диапазона линейных измерений от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м. Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры, предназначенные для проведения всех видов поверок растровых электронных измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.631 и сканирующих зондовых атомно-силовых измерительных микроскопов по ГОСТ Р 8.630 при проведении государственного метрологического контроля (надзора), а также на рельефные меры, используемые при калибровке указанных типов микроскопов Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ Р 8.630-2007, ГОСТ Р 8.631-2007, ГОСТ 19658-81 |
| ГОСТ Р 8.629-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки | 01.02.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for verification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют при измерении линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м. Настоящий стандарт устанавливает методику первичной и периодических поверок рельефных мер. Межповерочный интервал рельефной меры - один год Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.1.040-83, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки | 01.02.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe measuring microscopes. Methods for verification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629. Межповерочный интервал микроскопа - один год Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки | 01.02.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron measuring microscopes. Methods for verification Область применения: Настоящий стандарт распространяется на измерительные растровые электронные микроскопы (РЭМ), применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с помощью рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629. Межповерочный интервал РЭМ - 6 мес. Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки | 01.08.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the unifоrmity of measuremеnts. Atomic-forсe scanning probe microscopes. Method for calibration Область применения: Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их калибровки с использованием рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629 Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки | 01.08.2008 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the unifоrmity of measuremеnts. Scanning electron microscopes. Methods for calibration Область применения: Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их калибровки с помощью рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629 Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р 8.629-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.644-2008 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки | 01.06.2009 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for calibration Область применения: Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют для измерения линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м. Настоящий стандарт устанавливает методику калибровки рельефных мер Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628-2007, ГОСТ Р ИСО 14644-2-2001, ГОСТ Р ИСО 14644-5-2005, ГОСТ 12.1.040-83, ГОСТ 12.2.061-81, ГОСТ ИСО 14644-1-2002 |
| ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005, ГОСТ 12.1.045 |
| ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005-88, ГОСТ 12.1.045-84 |
| ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра | 01.09.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках Нормативные ссылки: ГОСТ 12.1.005-88, ГОСТ 12.1.045-84 |
| ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа | 01.11.2010 | действует |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м Нормативные ссылки: ГОСТ Р 8.628, ГОСТ Р 8.629, ГОСТ Р 8.630, ГОСТ Р 8.635, ГОСТ Р 8.644, ГОСТ Р ИСО 14644-2, ГОСТ Р ИСО 14644-5, ГОСТ 12.1.005 , ГОСТ 12.1.045, ГОСТ 25142 |
| ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1·10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм | 01.01.2013 | отменён |
| Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. State verification schedule for measuring instruments of length in the range from 1·10-9 to 50 m and wavelength in the range from 0, 2 to 50 µm Область применения: Настоящий стандарт распространяется на государственную поверочную схему для средств измерений длины в диапазоне 1*10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм и устанавливает порядок передачи единицы длины от государственного первичного эталона единицы длины - метра рабочим средствам измерений с помощью вторичных и рабочих эталонов с указанием погрешностей и основных методов поверки |
- иконка документа;
- загрузка документа.
- развернуть список;
- свернуть список.
- действующий;
- принят (но не вступивший в силу), действует только в РФ, с неизвестным статусом;
- заменён, отменён, утратил силу в РФ, срок действия истёк.