Обозначение: | ГОСТ Р 57394-2017 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
Название англ.: | Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
Дата актуализации текста: | 05.05.2017 |
Дата актуализации описания: | 01.01.2023 |
Дата регистрации: | 00.00.0000 |
Дата издания: | 17.04.2017 |
Дата введения: | 01.01.2018 |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации |
|
Расположен в: |
|