Обозначение: | ГОСТ 26239.7-84 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
Название англ.: | Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.01.2023 |
Дата регистрации: | 00.00.0000 |
Дата издания: | 21.01.1985 |
Дата введения: | 01.01.1986 |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
|
Расположен в: |
|