Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 |
Статус: | действует |
Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
Дата актуализации описания: | 01.01.2023 |
Дата регистрации: | 00.00.0000 |
Дата издания: | 21.01.1985 |
Дата введения: | 01.01.1986 |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
|
Расположен в: |
|