| Обозначение: |   ГОСТ 26239.5-84 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
| Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.01.2023 |
| Дата регистрации: | 00.00.0000 |
| Дата издания: | 21.01.1985 |
| Дата введения: | 01.01.1986 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен» |
|
| Расположен в: |
|
