| Обозначение: |   ГОСТ Р 59743.2-2022 |
| Статус: | принят |
| Название рус.: | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
| Название англ.: | Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
| Дата актуализации текста: | 01.01.2023 |
| Дата актуализации описания: | 01.01.2023 |
| Дата регистрации: | 00.00.0000 |
| Дата издания: | 01.08.2022 |
| Дата введения: | 01.03.2023 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз |
|
| Расположен в: |
|
